孔探儀是工業(yè)內(nèi)窺鏡的別稱，主要針對(duì)在航空發(fā)動(dòng)機(jī)領(lǐng)域的檢測(cè)應(yīng)用?？滋絻x屬于比較精密的檢測(cè)儀器，價(jià)格并不便宜，而且擔(dān)負(fù)著飛機(jī)發(fā)動(dòng)機(jī)檢測(cè)的重大任務(wù)，延長其使用壽命，對(duì)于保障安全、控制成本來說至關(guān)重要。延長孔探儀使用壽命，一定要重視開機(jī)前的檢查工作，這樣可以可以大幅降低損傷風(fēng)險(xiǎn)、或者避免多次損傷。下面以韋林視頻孔探儀為例加以說明。

首先，準(zhǔn)備及清點(diǎn)所需的孔探儀及附件（如鏡頭、導(dǎo)管、檢查電池電量等）。如除電池外還需使用現(xiàn)場(chǎng)電源，確保現(xiàn)場(chǎng)220V/50Hz或115V/400Hz的電壓穩(wěn)定（必要時(shí)可使用穩(wěn)壓電源）。

其次，檢查探頭的CCD鈦合金外殼外觀是否良好無損傷（損傷類型多為凹坑），如鈦合金外殼部位已存在損傷即表示曾承受較大外力，此種損傷為不可逆的。此時(shí)應(yīng)在開機(jī)后著重檢查設(shè)備成像效果是否良好；同時(shí)應(yīng)在以后使用中重點(diǎn)注意，避免二次損傷以期延長孔探儀使用壽命。如損傷已導(dǎo)致成像異常，請(qǐng)聯(lián)系北京韋林意威特工業(yè)內(nèi)窺鏡有限公司處理。

注意檢查工業(yè)內(nèi)窺鏡探頭導(dǎo)向部位的鎢絲編織外皮是否有褶皺、拉伸、壓傷變形、扎絲、松脫等外觀損傷（扎絲和松脫多發(fā)生于導(dǎo)向關(guān)節(jié)的兩端），如遇有3根及以下的扎絲可由孔探工程師自行剪平處理。如扎絲現(xiàn)象嚴(yán)重（多于3根）建議咨詢北京韋林公司。切勿帶有扎絲繼續(xù)堅(jiān)持使用，避免由于阻力增大造成發(fā)動(dòng)機(jī)內(nèi)意外卡阻等風(fēng)險(xiǎn)。

還要檢查探頭軟管是否有擠壓變形損傷。此項(xiàng)檢查可以借助單手捋探頭軟管的方式完成。如發(fā)現(xiàn)外觀損傷則應(yīng)在開機(jī)后著重檢查設(shè)備導(dǎo)向效果及成像效果是否良好，同時(shí)應(yīng)在使用中重點(diǎn)注意盡量避免二次損傷以期延長使用壽命。

最后，檢查孔探儀鏡頭是否有變形、刻痕、鏡片及導(dǎo)光玻璃體破損、機(jī)械連接部位裂紋（尤其在發(fā)現(xiàn)鏡頭變形、刻痕及鏡片玻璃體破損時(shí)更應(yīng)重點(diǎn)檢查此項(xiàng)目）等外觀損傷，必要時(shí)可以用手觸碰的方式檢驗(yàn)機(jī)械連接部位的穩(wěn)固性。如鏡頭出現(xiàn)變形、刻痕、鏡片及導(dǎo)光玻璃破損，在沒有脫落風(fēng)險(xiǎn)且不影響成像效果的前提下須重點(diǎn)監(jiān)控使用；否則應(yīng)立即隔離并停止使用該鏡頭，同時(shí)咨詢北京韋林公司，切勿繼續(xù)帶風(fēng)險(xiǎn)工作。

開展孔探檢測(cè)工作之前，切勿著急開機(jī)，一定要按照上述方式對(duì)工業(yè)內(nèi)窺鏡的探頭外殼、導(dǎo)向關(guān)節(jié)、鏡頭等做一次全方位的檢查，確認(rèn)一切正常再開機(jī)工作，如果發(fā)現(xiàn)問題及時(shí)咨詢商家，即：在孔探設(shè)備出現(xiàn)輕微損傷的初期及時(shí)處理，避免損傷的嚴(yán)重化、擴(kuò)大化，從而延長孔探儀使用壽命。

相關(guān)推薦：

航空孔探儀品牌哪家好-北京韋林意威特工業(yè)內(nèi)窺鏡有限公司
要做好民航孔探檢測(cè),電子內(nèi)窺鏡開機(jī)后要注意這些方面
工業(yè)內(nèi)窺鏡搭載三維立體相位掃描測(cè)量技術(shù)在發(fā)動(dòng)機(jī)孔探中的應(yīng)用
工業(yè)內(nèi)窺鏡生產(chǎn)廠家推薦相位掃描3D測(cè)量工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡,提升發(fā)動(dòng)機(jī)孔探檢測(cè)效率！

熱點(diǎn)文章：

使用工業(yè)內(nèi)窺鏡對(duì)航空發(fā)動(dòng)機(jī)進(jìn)行孔探檢測(cè)的流程及產(chǎn)品推薦
韋林工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡定位發(fā)動(dòng)機(jī)缺陷如此輕松_進(jìn)口工業(yè)內(nèi)窺鏡的測(cè)量功能
進(jìn)口內(nèi)窺鏡探頭導(dǎo)向性能全方位介紹_韋林工業(yè)內(nèi)窺鏡
工業(yè)內(nèi)窺鏡搭載3D相位掃描測(cè)量法可有效降低測(cè)量選點(diǎn)誤差